| これが私の仕事 |
電子顕微鏡で観察する様々なサンプルを加工しています
私は集束イオンビーム(Focused Ion Beam:FIB)装置を使ってTEM（透過電子顕微鏡）観察に用いるサンプルの加工を行っています。FIB装置ではサンプルにイオンビームを照射し、固体の任意もしくは特定の箇所を削り取る加工を行うことができます。TEM用のサンプルは厚さ約100nm（髪の毛の太さの約1/1000）と非常に薄いものです。分析対象が100nmよりも大きい場合は、その中心がTEMサンプルの中央になるように、また、分析対象が数十nmの場合は、TEMサンプルに確実に含まれるように微調整を行いながら加工しています。それ以外にも材質や分析の着目点はもちろん、どのような視野で観察するとより分かりやすいデータになるのか、等を考慮しています。多様なサンプルに触れることができますので、興味深く取り組むことができる業務です。 |
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だからこの仕事が好き！
一番うれしかったことにまつわるエピソード |
難しい依頼を達成できたとき、やりがいを感じます
私はサンプルを電子顕微鏡に入れるために小さく加工する仕事をしています。サンプルの形状や分析箇所はもちろん、お客様の評価目的は依頼ごとに全く異なります。任意箇所を加工する場合もあれば、100nm以下の微細な特定箇所を狙った加工が必要な場合もあります。このような微小箇所の加工は非常に難しく、先輩からノウハウを伝授してもらうほか、自分自身で工夫するなど試行錯誤を繰り返しながら取り組んでいます。しかし、実はこのような高難易度の加工技術こそがデータの質を決めるポイントです。自分が携わったサンプルで良いデータを提供し、お客様に喜んで頂けたときはやりがいを感じます。 |
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| ズバリ！私がこの会社を選んだ理由 ここが好き |
分析によって企業を支えるところが魅力に感じました
私自身、学生時代の研究テーマでは直接分析機器に触れることはありませんでした。しかし、研究の一環で自分の研究室とは別の場所に分析を頼むことがありました。その時に様々なお客様の分析を担っている企業があることを知り、分析によって企業を支えていく縁の下の力持ちのような存在が魅力に感じました。分析会社の中でもMSTを選んだ理由は雰囲気と立地です。実際にMSTの先輩は話しやすいなと感じましたし、寮が財団から近くて自転車で通えるというところが良いなと思いました。 |
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| これまでのキャリア |
2019年度入団→分析評価部STGにてNB5000を担当 |
