電子顕微鏡で観察する様々なサンプルを加工しています 私は集束イオンビーム(Focused Ion Beam:FIB)装置を使ってTEM(透過電子顕微鏡)観察に用いるサンプルの加工を行っています。FIB装置ではサンプルにイオンビームを照射し、固体の任意もしくは特定の箇所を削り取る加工を行うことができます。TEM用のサンプルは厚さ約100nm(髪の毛の太さの約1/1000)と非常に薄いものです。分析対象が100nmよりも大きい場合は、その中心がTEMサンプルの中央になるように、また、分析対象が数十nmの場合は、TEMサンプルに確実に含まれるように微調整を行いながら加工しています。それ以外にも材質や分析の着目点はもちろん、どのような視野で観察するとより分かりやすいデータになるのか、等を考慮しています。多様なサンプルに触れることができますので、興味深く取り組むことができる業務です。